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NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺
NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應(yīng)對全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的平臺系統(tǒng)供應(yīng)商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。
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PXI 2013用戶完全自定義：一個(gè)真正屬于你的PXI平臺
5月28日，眾所期待的PXI TAC 2013如期在北京舉行，21ic記者也應(yīng)邀參加了這場盛會。在上午舉行的主題演講中，在場的所有工程師、媒體見證了PXI技術(shù)自1997年由NI公司推出到如今的完善、與時(shí)俱進(jìn)。1997年NI發(fā)布了一種全
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基于PXI平臺的ESP系統(tǒng)性能測試平臺
應(yīng)用領(lǐng)域：信號采集/產(chǎn)品測試挑戰(zhàn)：電子穩(wěn)定系統(tǒng)(Electroni-c Stability Program, 簡稱ESP，下同)實(shí)車道路試驗(yàn)不僅對場地要求十分苛刻，實(shí)驗(yàn)過程具有相當(dāng)?shù)奈ｋU(xiǎn)性，而且所需測量的信號較多。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)不僅要
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基于NI PXI平臺的模塊化電子戰(zhàn)模擬系統(tǒng)
挑戰(zhàn):使用最新的商業(yè)現(xiàn)成技術(shù)，設(shè)計(jì)和部署靈活、可擴(kuò)展的模塊化電子戰(zhàn)模擬系統(tǒng)。解決方案:使用多個(gè)PXI系統(tǒng)和任意波形發(fā)生器，通過T-Clock技術(shù)精確地同步并協(xié)調(diào)脈沖信號、頻率信號和掃描調(diào)制波形，以生成復(fù)雜的信號波
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ST-Ericsson將半導(dǎo)體測試速度提升10倍
"總的來說，相較之前的解決方案，PXI系統(tǒng)速度提升了十倍，而成本是之前的三分之一。 PXI平臺的靈活性，能夠適應(yīng)各種不同的數(shù)字和射頻標(biāo)準(zhǔn)。"- Sylvain Bertrand, ST-Ericsson The Challenge: 構(gòu)建靈活的驗(yàn)證測試解
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PXI平臺簡介與高速量測模塊同步之探討
前言隨著電子制造技術(shù)的日益發(fā)展，集成電路的功能變得越來越復(fù)雜，而體積卻越來越小，因此對制造測試電子元件的廠商而言，如何以最快的時(shí)間建造出最具競爭力的測試平臺，的確是一門不小的學(xué)問。1960年代末期，Hewlet
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PXI平臺在電子制造業(yè)的應(yīng)用
前言隨著技術(shù)的演進(jìn)及市場需求的改變，電子制造及測試的方式也隨之變化. 二十一世紀(jì)人們對產(chǎn)品技術(shù)的要求提升,以及產(chǎn)品生命周期的短縮和價(jià)格的壓力讓電子制造業(yè)者不得不思考是否有另一種測試平臺，可以比傳統(tǒng)PC，GPI
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基于PXI平臺的ESP系統(tǒng)性能測試系統(tǒng)介紹
The Challenge: 電子穩(wěn)定系統(tǒng)(Electronic Stability Program, 簡稱ESP，下同)實(shí)車道路試驗(yàn)不僅對場地要求十分苛刻，實(shí)驗(yàn)過程具有相當(dāng)?shù)奈ｋU(xiǎn)性，而且所需測量的信號較多。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)不僅要能夠采集各種信號，還
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NI模塊擴(kuò)展PXI平臺的功能 降低半導(dǎo)體研究分析和測試的成本
——每個(gè)引腳數(shù)字參數(shù)測量和高密度的源測量單元模塊都是半導(dǎo)體研究、測試的理想選擇 新聞發(fā)布——2011年8月——美國國家儀器有限公司（NationalInstruments，簡稱NI）擴(kuò)展其PXI平臺的功能，通過新發(fā)布的每個(gè)引腳
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NI模塊擴(kuò)展PXI平臺的功能
美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)擴(kuò)展其PXI平臺的功能，通過新發(fā)布的每個(gè)引腳參數(shù)測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊(SMU)用于半導(dǎo)體的特性描述和生產(chǎn)測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具
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NI模塊擴(kuò)展PXI平臺的功能，降低半導(dǎo)體研究分析和測試的成本
——每個(gè)引腳數(shù)字參數(shù)測量和高密度的源測量單元模塊都是半導(dǎo)體研究、測試的理想選擇新聞發(fā)布——2011年8月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）擴(kuò)展其PXI平臺的
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基于PXI平臺的ESP系統(tǒng)性能測試平臺
應(yīng)用領(lǐng)域：信號采集/產(chǎn)品測試挑戰(zhàn)：電子穩(wěn)定系統(tǒng)(Electroni-c Stability Program, 簡稱ESP，下同)實(shí)車道路試驗(yàn)不僅對場地要求十分苛刻，實(shí)驗(yàn)過程具有相當(dāng)?shù)奈ｋU(xiǎn)性，而且所需測量的信號較多。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)不僅要能
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基于PXI平臺的ESP系統(tǒng)性能測試平臺
The Challenge: 電子穩(wěn)定系統(tǒng)(Electronic Stability Program, 簡稱ESP，下同)實(shí)車道路試驗(yàn)不僅對場地要求十分苛刻，實(shí)驗(yàn)過程具有相當(dāng)?shù)奈ｋU(xiǎn)性，而且所需測量的信號較多。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)不僅要能夠采集各種信號，還
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基于PXI平臺的傳感器測量系統(tǒng)
傳統(tǒng)的傳感器測量系統(tǒng)通常是預(yù)定義且不靈活的。隨著應(yīng)用需求不斷變化，傳統(tǒng)的傳感器測量系統(tǒng)對通道數(shù)的擴(kuò)展和最新計(jì)算技術(shù)的應(yīng)用的限制性愈加突出。NI SC Express系列產(chǎn)品引進(jìn)了新的傳感器測量技術(shù)，為基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的
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KOR Electronics基于NI PXI平臺開發(fā)軍用電子戰(zhàn)模擬系統(tǒng)
行業(yè): 政府/國防產(chǎn)品: PXI, PXI-5421挑戰(zhàn): 使用最新的商業(yè)現(xiàn)成技術(shù)，設(shè)計(jì)和部署靈活、可擴(kuò)展的模塊化電子戰(zhàn)模擬系統(tǒng)。解決方案: 使用多個(gè)PXI系統(tǒng)和任意波形發(fā)生器，通過T-Clock技術(shù)精確地同步并協(xié)調(diào)脈沖信號、頻
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使用LabVIEW和PXI平臺開發(fā)飛行器結(jié)構(gòu)測試的監(jiān)測控制系統(tǒng)
挑戰(zhàn): 為控制系統(tǒng)編寫易于使用的程序，用于對機(jī)身或其它部件（機(jī)翼或舵）進(jìn)行結(jié)構(gòu)和疲勞測試。解決方案: 使用PXI和LabVIEW實(shí)時(shí)模塊，創(chuàng)建基于實(shí)時(shí)技術(shù)的數(shù)據(jù)采集和控制系統(tǒng)。"使用NI 公司的LabVIEW實(shí)時(shí)模塊和PXI系
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基于NI PXI平臺的旋轉(zhuǎn)機(jī)械工作模態(tài)測試
The Challenge:由于沒有白噪聲作為激勵(lì)，同時(shí)變轉(zhuǎn)速的旋轉(zhuǎn)機(jī)械振動(dòng)中多個(gè)諧波的混疊，造成頻率混疊或者無法激勵(lì)除模態(tài)，所以旋轉(zhuǎn)機(jī)械工作模態(tài)測試（OMA）一直是一個(gè)難題。The Solution:使用NI PXI平臺和NI聲音振動(dòng)工
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基于NI PXI平臺的旋轉(zhuǎn)機(jī)械工作模態(tài)測試
功率譜（恒定轉(zhuǎn)速） 作者: 洪 廣偉 - 上海宏勤信息科技有限公司 行業(yè): 產(chǎn)品: 挑戰(zhàn): 由于沒有白噪聲作為激勵(lì)，同時(shí)變轉(zhuǎn)速的旋轉(zhuǎn)機(jī)械振動(dòng)中多個(gè)諧波的混疊，造成頻率混疊或者無法激勵(lì)除模態(tài)，所以旋轉(zhuǎn)機(jī)械工作
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PXI平臺將向五大方向演進(jìn)
經(jīng)過十余年的發(fā)展，基于PC技術(shù)的高吞吐量、高實(shí)時(shí)同步和高可靠性的自動(dòng)化測試平臺PXI正在越來越多的領(lǐng)域發(fā)揮作用，從汽車ECU標(biāo)定與測量、模擬視頻和3D數(shù)字視頻測試、電子制造生產(chǎn)線測試、電動(dòng)汽車的電池管理系統(tǒng)測試
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基于LabVIEW和PXI平臺的6-DOF并聯(lián)機(jī)器人控制系統(tǒng)的開發(fā)
基于LabVIEW和PXI平臺的6-DOF并聯(lián)機(jī)器人控制系統(tǒng)的開發(fā) Study on the Control System of the 6-DOF Parallel Robot Based on LabVIEW and PXI Development Platform 作者：張建政 指導(dǎo)老師：高峰 趙現(xiàn)朝
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