全新WEBENCH Visualizer設(shè)計工具（NS）

美國國家半導(dǎo)體公司 (NS)宣布推出一套稱為WEBENCH® Visualizer設(shè)計工具。憑借這套性能卓越的比較及選擇工具，工程師能夠迅速選擇一款最理想的電源系統(tǒng)設(shè)計解決方案。WEBENCH® Visualizer 設(shè)計工具可以根據(jù)能源效率、方案大小及物料成本等標(biāo)準(zhǔn)以簡單的圖表顯示不同方案的優(yōu)劣。WEBENCH設(shè)計網(wǎng)頁提供25種不同的開關(guān)電源供應(yīng)器結(jié)構(gòu)及21,000款元件，工程師能夠從上億款電源供應(yīng)器設(shè)計解決方案中進(jìn)行篩選，而且整個過程只需幾秒的時間。工程師更可隨時修改設(shè)計參數(shù)，并實(shí)時審視其性能，直至最終獲得一款能夠滿足其獨(dú)特設(shè)計的最佳直流至直流（DC-DC）電源解決方案。

美國國家半導(dǎo)體技術(shù)銷售工具副總裁Phil Gibson 表示：“設(shè)計模擬電路的專家通過使用美國國家半導(dǎo)體的WEBENCH Visualizer全套齊備的設(shè)計工具，便能夠在最短的時間內(nèi)作出更加明智的商業(yè)決策。對于經(jīng)驗(yàn)稍遜的電源系統(tǒng)設(shè)計工程師，這套工具也可提升他們的設(shè)計能力，使得他們能夠在模擬電源系統(tǒng)設(shè)計方面有所提升。”

美國國家半導(dǎo)體的WEBENCH Visualizer設(shè)計工具可支持多種不同的電源供應(yīng)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，其中包括降壓、升壓、升/降壓、SEPIC及反激等拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。這套設(shè)計工具還另外提供多種電路配置，以便滿足特別的設(shè)計要求，例如固定頻率與恒定導(dǎo)通時間結(jié)構(gòu)以及電流模式與電壓模式的控制環(huán)路。該設(shè)計工具還收錄了110家不同廠商的電源元器件資料，形成了內(nèi)容齊全的電源器件資料庫。系統(tǒng)設(shè)計工程師可以根據(jù)設(shè)計需求，按照產(chǎn)品參數(shù)挑選合適的器件。這些參數(shù)包括：

輸入電壓：1V至100V
輸出電壓： 0.6V至300V
功率：高達(dá) 300W
效率：高達(dá) 96%
頻率：高達(dá) 3MHz
方案大小：14mm x 14mm 或以上
 
WEBENCH Visualizer 設(shè)計工具的工作原理

WEBENCH Visualizer 設(shè)計工具設(shè)有性能優(yōu)化按鈕，工程師只要點(diǎn)擊該按鈕，便可輸入他們需要的方案大小、物料成本及能源效率等參數(shù)。該設(shè)計工具將即時從480億個設(shè)計方案中篩選出50至70個參考設(shè)計，從中給出體積最小且效率最高的兩款設(shè)計，并最終建議采用其中一款，從而使工程師以此為基礎(chǔ)進(jìn)行進(jìn)一步系統(tǒng)性能優(yōu)化。

工程師也可利用WEBENCH Visualizer設(shè)計工具的另一控制面板對其它設(shè)計參數(shù)（如電壓、電流及溫度）進(jìn)行調(diào)整。這套設(shè)計工具會在幾秒內(nèi)根據(jù)更新的參數(shù)另外提供多個解決方案，詳列每個設(shè)計方案相關(guān)設(shè)計資料，如拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、電路簡圖、方案大小、效率、操作時采用的數(shù)值以及物料成本/元件數(shù)目。這套工具另外還有互動式篩選功能，使工程師可以微調(diào)電源系統(tǒng)的設(shè)計，確保能夠真正滿足系統(tǒng)設(shè)計的特殊要求。

工程師選定設(shè)計之后，便可利用美國國家半導(dǎo)體WEBENCH設(shè)計網(wǎng)頁提供的其他元件，進(jìn)行有關(guān)導(dǎo)電及導(dǎo)熱方面的仿真測試，以便進(jìn)一步優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)計的性能。系統(tǒng)設(shè)計工程師只需點(diǎn)擊“建?？炀€”功能，美國國家半導(dǎo)體便會在最短時間內(nèi)將為客戶度身訂造的電源原型套件遞送到他們手中。

WEBENCH Visualizer 是美國國家半導(dǎo)體多次獲獎的WEBENCH LED及電源供應(yīng)設(shè)計網(wǎng)頁開發(fā)系列的新工具。這套設(shè)計工具不但可以實(shí)時提供最新的仿真測試模型、相關(guān)參數(shù)以及封裝資料，同時能夠確保設(shè)計工程師比較不同芯片在不同電路中所發(fā)揮的性能。