大容量存儲器集成電路的測試系統(tǒng)是科技型中小企業(yè)技術創(chuàng)新基金項目,是根據(jù)大容量存儲器集成電路SDRAM、DDR SDRAM和:flash RAM的發(fā)展趨勢而研究開發(fā)的測試系統(tǒng)。方案的主要內(nèi)容為測試方法和測試程序
<匯港通訊> 上海復旦(01385)宣布,包括公司在內(nèi)之46名上海華嶺現(xiàn)有股東、31名上海華嶺之現(xiàn)有董事、監(jiān)事、高級管理人員及核心員工及4名新增機構投資者,將按每股5元人民幣(下同),認購上海華嶺之1100萬股新股份,上海
第11屆中國國際半導體博覽會暨高峰論壇(IC China 2013)將于2013年11月13-15日在上海新國際博覽中心隆重開幕。屆時,上海華嶺集成電路技術股份有限公司將攜相關產(chǎn)品亮相展會。上海華嶺是第一批國家鼓勵的集成電路企業(yè)
羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz, R&S)作為全球最大的電子和無線移動通信測試設備廠商之一,將于2013年2月28日至3月2日在深圳舉辦的2013年集成電路研討會暨展覽會(IIC CHINA 2013)上全面展示面向未來的各種半導
21ic訊 羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz, R&S)于2013年2月28日至3月2日在深圳舉辦的2013年集成電路研討會暨展覽會(IIC CHINA 2013)上全面展示面向未來的各種半導體元件及集成電路的測試解決方案。 其中包括:全
摘要:為實現(xiàn)集成電路測試儀的軟硬件通信功能,通過比較通用的PCI通信接口的實現(xiàn)方法,為了簡化邏輯電路設計,使其更具通用性,采用了PCI專用接口芯片PCI9030,并使用可編程邏輯器件FPGA完成復雜的時序邏輯控制和地址
電子技術的電控電路常采用 CMOS邏輯控制系統(tǒng),自行設計和安裝了簡易集成邏輯門電路測試儀也不難事。只要掌握了各種邏輯門電路輸入和輸出的邏輯關系,通過該測試儀即可很快判斷集成電路的好壞。一、測試儀電路構成及原
2010年8月26日,世界著名集成電路測試設備公司日本愛德萬(ADVANTEST)公司董事長丸山利雄一行三人到北京自動測試技術研究所訪問,所長張東、總工程師馮建科給予了熱情的接待。 張東所長向來訪人員介紹了測試所目前
諸玲珍 前一段在業(yè)內(nèi)傳得沸沸揚揚的集成電路測試設備大廠愛德萬(Advantest)收購惠瑞捷(Verigy)一案近日終于塵埃落定。Verigy高層已于本月21日向Advantest表示同意其所提收購案的想法,Advantest將以每股15美元的價格
在集成電路測試設備行業(yè),本土企業(yè)面臨的困難是顯而易見的。首先是行業(yè)背景,任何一個測試設備公司都是離不開行業(yè)這個搖籃,國際ATE(AutomaticTestEquipment自動化測試設備)公司在領先中國國內(nèi)幾十年發(fā)展的國外集成電
“從目前看,國外IC測試設備廠商之間的并購,對國內(nèi)用戶來說不是好消息,設備過分集中在大公司手中,會使我們采購設備價格的談判余地更小。”這是中國電子標準化研究所副總工程師、集成電路測試驗證實驗室
“從目前看,國外IC測試設備廠商之間的并購,對國內(nèi)用戶來說不是好消息,設備過分集中在大公司手中,會使我們采購設備價格的談判余地更小。”這是中國電子標準化研究所副總工程師、集成電路測試驗證實驗室主任陳大為
“從目前看,國外IC測試設備廠商之間的并購,對國內(nèi)用戶來說不是好消息,設備過分集中在大公司手中,會使我們采購設備價格的談判余地更小?!边@是中國電子標準化研究所副總工程師、集成電路測試驗證實驗室主任陳大
Multitest公司日前宣布,現(xiàn)已設計出適于每種半導體測試應用的定制型微分測試座。為適應預期阻抗,測試座材料選擇及探針經(jīng)過悉心優(yōu)化。?差分信號裝置的測試座必須盡可能的提供最透明互聯(lián),以盡量降低測試系統(tǒng)和被測器
日前,北京自動測試技術研究所與中國科學院微電子研究所共同成立的“北京集成電路測試技術聯(lián)合實驗室”正式啟動。北京自動測試技術研究所所長張東研究員介紹說,新成立的“北京集成電路測試技術聯(lián)合實驗室”,將整合
11月30日,北京集成電路測試技術聯(lián)合實驗室正式啟動集成電路(IC)測試是集成電路產(chǎn)業(yè)的重要一環(huán)。設計、制造、封裝、測試四業(yè)并舉,是國際集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展的主流趨勢。“北京集成電路測試技術聯(lián)合實驗室”
介紹了一種數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的工作原理、組成。提出了系統(tǒng)的軟硬件設計方案。該系統(tǒng)基于自定義總線結構,可測試電平范圍寬。