日前,三星在日本舉辦了三星鑄造工廠論壇(SFF)2018年會(huì),更新了技術(shù)路線圖。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),主要有三點(diǎn),一是基于EUV技術(shù)的7nm制程工藝會(huì)在接下來(lái)幾個(gè)季度內(nèi)大規(guī)模量產(chǎn)(初期EUV僅用于選擇層),二是導(dǎo)
格芯近日在其年度全球技術(shù)大會(huì)(GTC)上宣布計(jì)劃在其14/12nm FinFET產(chǎn)品中引入全套新技術(shù),這是公司加強(qiáng)差異化投資的全新側(cè)重點(diǎn)之一。新工藝技術(shù)旨在為快速增長(zhǎng)市場(chǎng)(如超大規(guī)模數(shù)據(jù)中心和自動(dòng)駕駛汽車)應(yīng)用提供更好的可擴(kuò)展性和性能。
新思科技(Synopsys, Inc.)今日宣布與IBM攜手,將設(shè)計(jì)與工藝聯(lián)合優(yōu)化 (DTCO,Design Technology Co-Optimization) 應(yīng)用于針對(duì)后FinFET工藝的新一代半導(dǎo)體工藝技術(shù)。
格芯(GLOBALFOUNDRIES)今天宣布其轉(zhuǎn)型的重要一步,繼今年初湯姆·嘉菲爾德(Tom Caulfield)接任首席執(zhí)行官后,格芯正在重塑其技術(shù)組合,依照嘉菲爾德所闡述的戰(zhàn)略方向,重點(diǎn)關(guān)注為高增長(zhǎng)市場(chǎng)中的客戶提供真正的差異化產(chǎn)品。
同任何IP模塊一樣,存儲(chǔ)器必須接受測(cè)試。但與很多別的IP模塊不同,存儲(chǔ)器測(cè)試不是簡(jiǎn)單的通過(guò)/失敗檢測(cè)。存儲(chǔ)器通常都設(shè)計(jì)了能夠用來(lái)應(yīng)對(duì)制程缺陷的冗余行列,從而使片上系統(tǒng)(SoC)良率提高到90%或更高。
三星與韓國(guó)科學(xué)技術(shù)院(KAIST)在FinFET工藝上的爭(zhēng)論由來(lái)已久,KAIST在訴訟中表示當(dāng)時(shí)還在KAIST工作的教授Lee Jong-ho在2001年向三星展示過(guò)FinFET技術(shù),三星起初對(duì)FinFET工藝并不上心,但是后來(lái)看到英特爾的FinFET量產(chǎn)之后也加快了FinFET工藝開(kāi)發(fā),三星使用了Lee Jong-ho教授的FinFET工藝為基礎(chǔ)改進(jìn)FinFET工藝,最終在2011年推出了跟Lee Jong-ho教授研發(fā)的FinFET工藝相近的FinFET技術(shù)。
FinFET技術(shù)是電子行業(yè)的下一代前沿技術(shù),是一種全新的新型的多門3D晶體管。和傳統(tǒng)的平面型晶體管相比,F(xiàn)inFET器件可以提供更顯著的功耗和性能上的優(yōu)勢(shì)。英特爾已經(jīng)在22nm上使用了稱為“三柵”的FinFET技術(shù),同時(shí)許多
美國(guó)加利福尼亞圣克拉拉,2017年9月20日 – 格芯(GLOBALFOUNDRIES)正在提供其為IBM的下一代服務(wù)器系統(tǒng)處理器定制的量產(chǎn)14納米高性能(HP)技術(shù)。這項(xiàng)雙方共同開(kāi)發(fā)的工藝專為IBM提供所需的超高性能和數(shù)據(jù)處理能力,從而在大數(shù)據(jù)和認(rèn)知計(jì)算的時(shí)代為IBM的云、商業(yè)和企業(yè)解決方案提供支持。
Mentor, a Siemens business 今天宣布,適用于新型 Intel® 22FFL(FinFET 低功耗)工藝技術(shù)的 Calibre® 物理驗(yàn)證平臺(tái)和 Analog FastSPICE™ (AFS™) 電路仿真平臺(tái)獲得了流片 Sign-off 認(rèn)證。
大家都在談?wù)揊inFET——可以說(shuō),這是MOSFET自1960年商用化以來(lái)晶體管最大的變革。幾乎每個(gè)人——除了仍然熱心于全耗盡絕緣體硅薄膜(FDSOI)的人,都認(rèn)為20 nm節(jié)點(diǎn)以后,F(xiàn)inFET將成為SoC的未來(lái)。但是對(duì)于要使用這些SoC的系統(tǒng)開(kāi)發(fā)人員而言,其未來(lái)會(huì)怎樣呢?
三星宣布,加入了11nm 工藝,性能比此前的14nm提升了15%,單位面積的功耗降低了10%。若要遵循摩爾定律繼續(xù)走下去,未來(lái)的半導(dǎo)體技術(shù)還會(huì)有多大所提升空間呢?
隨著更先進(jìn)工藝的芯片陸續(xù)進(jìn)入工業(yè)和汽車領(lǐng)域應(yīng)用,芯片制造商們正在努力解決新工藝下的先進(jìn)芯片的可靠性問(wèn)題
隨著更先進(jìn)工藝的芯片陸續(xù)進(jìn)入工業(yè)和汽車領(lǐng)域應(yīng)用,芯片制造商們正在努力解決新工藝下的先進(jìn)芯片的可靠性問(wèn)題,諸如EOS,ESD以及其他一些與電力相關(guān)的問(wèn)題,由于汽車和工業(yè)部門對(duì)電路的可靠性有著非常嚴(yán)格的要求,制造商必須重新審視先進(jìn)工藝制造的芯片潛在的有可能影響器件長(zhǎng)期使用可靠性的諸多因素。
隨著高級(jí)工藝的演進(jìn),電路設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在最先進(jìn)的晶片上系統(tǒng)內(nèi)加載更多功能和性能的能力日益增強(qiáng)。與此同時(shí),他們同樣面臨許多新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。多重圖案拆分給設(shè)計(jì)實(shí)施過(guò)程帶來(lái)了許多重大布局限制,另外為降低功耗和提高性能而引入 FinFET 晶體管使之更加復(fù)雜,因?yàn)樗鼘?duì)擺設(shè)和布線流程帶來(lái)了更多的限制。適用于高級(jí)工藝設(shè)計(jì)的物理實(shí)現(xiàn)工具必須針對(duì)引入多重圖案拆分和 FinFET 后的擺設(shè)、布線、DFM、提取和時(shí)序進(jìn)行增強(qiáng)。
格芯今日宣布推出其具有7納米領(lǐng)先性能的(7LP)FinFET半導(dǎo)體技術(shù),其40%的跨越式性能提升將滿足諸如高端移動(dòng)處理器、云服務(wù)器和網(wǎng)絡(luò)基礎(chǔ)設(shè)施等應(yīng)用的需求。設(shè)計(jì)套件現(xiàn)已就緒,
早前臺(tái)媒指華為海思只占臺(tái)積電營(yíng)收的5%左右,遠(yuǎn)低于蘋(píng)果、高通和聯(lián)發(fā)科等的貢獻(xiàn),在聯(lián)發(fā)科都難以獲得10nm工藝產(chǎn)能的情況下,華為海思估計(jì)更難,如此其mate10手機(jī)要趕在9月份前后上市的話,麒麟970就只能采用臺(tái)積電的12nmFinFET生產(chǎn)了。
隨著高級(jí)工藝的演進(jìn),電路設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在最先進(jìn)的晶片上系統(tǒng)內(nèi)加載更多功能和性能的能力日益增強(qiáng)。與此同時(shí),他們同樣面臨許多新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。多重圖案拆分給設(shè)計(jì)實(shí)施過(guò)程帶來(lái)了許多重大布局限制,另外為降低功耗和提高性能而引入 FinFET 晶體管使之更加復(fù)雜,因?yàn)樗鼘?duì)擺設(shè)和布線流程帶來(lái)了更多的限制。
為了能夠充分發(fā)揮好工藝制程的功耗,性能和面積(PPA)上的優(yōu)勢(shì), 必須要求我們的設(shè)計(jì)人員將有相關(guān)工藝知識(shí)的設(shè)計(jì)戰(zhàn)略和優(yōu)化的IP相結(jié)合,其中包括了標(biāo)準(zhǔn)元件庫(kù)和嵌入式存儲(chǔ)器。在這有六種方式去實(shí)現(xiàn)它。
新思科技近日宣布:與臺(tái)灣集成電路制造股份有限公司(TSMC)共同開(kāi)發(fā)用于TSMC 12FFC制程的DesignWare®接口、模擬及基礎(chǔ)IP。
法國(guó)Soitec已實(shí)現(xiàn)FD-SOI晶園的高良率成熟量產(chǎn),其300mm晶圓廠能夠支持28nm、22nm及更為先進(jìn)的節(jié)點(diǎn)上大規(guī)模采用FD-SOI技術(shù)。如今,全球有三家位于三大洲的公司能夠供應(yīng)FD-SOI晶圓,包括法國(guó)Soitec、日本信越半導(dǎo)體(SHE)、美國(guó)SunEdison。這三家公司均采用了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的SOI晶園制造技術(shù),智能剝離(Smart Cut™)。